运转中的瓷绝缘子工频击穿电压低于干闪电压时，该绝缘子即为劣化绝缘子， 绝缘现已被击穿的绝缘子，称为零值绝缘子。当绝缘子串内有零值绝缘子时， 其污闪概率以及在过电压效果下的闪络概率都很高，乃至正常运转电压下也会 产生闪络，短路电流将会经过零值绝缘子的内部空隙，大电流的热效应会形成 瓷件与头部断裂开、铸铁帽迸裂、钢脚掉落、瓷件头部烧成玻璃体等，然后呈现 绝缘子掉串和导线掉线等一系列事端。目前国内检测零值绝缘子的首要办法有电压散布法、 走漏电流测量法、红外热像法、绝缘电阻测量法等。

　　散布电压测量法：当绝缘子串中有零值绝缘子，将显着影响绝缘子串的电压散布，依据这一原理， 宏博测控研产出产的HB-VD30绝缘子散布电压测试仪能够高效带电检测运转中的零值绝缘子。

　　红外热像法：依据劣化绝缘子的热像特征与正常绝缘子比较的热像色差，检测时如发现绝缘子串中 温度散布不接连且有亮色彩的热像，既可断定其为低值、零值绝缘子。

　　绝缘电阻测量法：依据劣化绝缘子的电阻值下降这一缺点，宏博测控研产出产的HB-RT20绝缘子电阻测试仪 ，可带电定量测量出每一片绝缘子的电阻值，一起能精确区别现已漏电但没有击穿处于临界损坏的绝缘子， 并将检测成果以数据方式实时记载存储显现，对低值、零值绝缘子主动报警提示。回来搜狐，检查更加多